3DAOI 奔創AOI檢測儀器 3D全自動光學檢測系統

設備名稱：在線式3D全自動光學檢測系統
設備型號：ATHENA L（SI）
設備品牌：韓國奔創

設備產地：韓國

一、關鍵技術優勢
1、8+4投射+3層2D光源
2、2D 和 3D 同步檢測算法
3、遠心鏡頭提供高精確度檢測
4、高配置CPU足以保證圖像快速處理
5、簡單明了的用戶界面
6、內置標準元件庫管理系統
7、離線實時調試系統（選項）

二、先進的高速度檢測和測量技術
1、無陰影高速檢測和測量技術

在Pemtron錫膏檢測系統中已使用超過10年的PMP相位測量技術（莫爾條紋），擁有豐富的3D圖像處理和檢測經驗。

ATHENA 系列 3D AOI配備100萬像素相機和8+4投射系統，對PCB進行100%的2D和3D全檢，保障完全無陰影光學檢測和低誤報率，并保持高度靈活性的系統功能。

2、高速檢測技術
ATHENA采用先進的算法，使用先進強大的影像處理器、控制器和自主專項開發的10MP、15um、 180fps遠心鏡頭相機，實現高速、穩定的測試。
3、高元件檢測技術
ATHENA采用全新的8+4方向3D投射技術，可提供業界領先的27mm元件高度的全方位3D檢測，選配Z軸，最高可以檢測60mm高度的元件。

4、無陰影 3D 技術
環狀光源和多投射系統能完全消除高密度元件和高元件對PCB產生的陰影影響。

5、光學字符識別
利用光學彩色抽色及建立樣板比對的原理識別元件的Part Name，能夠增加和修改OCR字體來優化Part Name的檢測條件，更好地識別字體。
6、3D 焊錫高度測量
利用Pemtron先進的3D技術，ATHENA能夠檢測到傳統2D AOI無法到達的區域，增加了焊錫高度、體積和元件共面性的測試項目，大大提高了對不良產品的檢測能力。
7、3D 引腳檢測
ATHENA能夠檢測引腳的焊錫高度和體積，并且提供高質量的真彩色3D圖像。
8、2D RGB 算法
通過RGB顏色區分，使操作者能更輕松地區分空焊、翹腳等不良。

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